干擾(rao)微(wei)機繼電保護測(ce)試儀的因(yin)素：

1、靜電放電干擾

在干燥(zao)的(de)環境下(xia)，工作人(ren)員的(de)衣(yi)物上可能會帶有高(gao)電(dian)壓，在穿絕緣(yuan)靴的(de)情(qing)況下(xia)，他們可以(yi)將電(dian)荷(he)帶到很遠的(de)地(di)(di)方，所以(yi)當工作人(ren)員接(jie)觸電(dian)子設備(bei)時(shi)(shi)會對(dui)其放電(dian)，放電(dian)的(de)程度依(yi)設備(bei)的(de)接(jie)地(di)(di)情(qing)況，環境不同(tong)而不同(tong)，嚴(yan)重時(shi)(shi)會燒毀電(dian)子元件，破(po)壞微機繼(ji)電(dian)保護(hu)測試儀自身的(de)系統。

2、輻射干擾

電(dian)力系統(tong)周圍經常(chang)會步(bu)話機和移動通(tong)信(xin)等工具，那么它(ta)的(de)(de)周圍將產(chan)生強(qiang)輻(fu)射電(dian)場(chang)和相應的(de)(de)磁場(chang)。變化(hua)的(de)(de)磁場(chang)耦合(he)到附近的(de)(de)弱電(dian)子設備的(de)(de)回路(lu)中。回路(lu)將感應出高頻電(dian)壓，形(xing)成(cheng)一(yi)個(ge)假信(xin)號源，從而導致(zhi)微機繼電(dian)保護測試儀(yi)不正(zheng)確動作。

3、雷擊

當(dang)變電(dian)(dian)站的接(jie)地(di)部件或(huo)避(bi)雷(lei)器遭受雷(lei)擊時，由于變電(dian)(dian)站的地(di)網(wang)(wang)為高(gao)(gao)阻抗或(huo)從設備(bei)到地(di)網(wang)(wang)的接(jie)地(di)線為高(gao)(gao)阻抗，都將因雷(lei)擊產生(sheng)的高(gao)(gao)頻(pin)電(dian)(dian)流(liu)，在變電(dian)(dian)站的地(di)網(wang)(wang)系統中引起暫態電(dian)(dian)位的升高(gao)(gao)，就(jiu)可能(neng)導致國(guo)電(dian)(dian)西高(gao)(gao)微機繼(ji)電(dian)(dian)保護測試儀(yi)誤動作或(huo)損(sun)壞靈敏設備(bei)與控制回路(lu)。

4、高頻干擾

如(ru)果電(dian)力系(xi)統(tong)在(zai)隔(ge)(ge)離(li)開(kai)關(guan)的(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)速(su)度(du)緩慢，操(cao)作(zuo)時(shi)(shi)在(zai)隔(ge)(ge)離(li)開(kai)關(guan)的(de)(de)(de)兩個觸點問(wen)就會產生電(dian)弧閃絡，從而(er)產生操(cao)作(zuo)過(guo)電(dian)壓，出(chu)現高(gao)(gao)(gao)(gao)頻電(dian)流，高(gao)(gao)(gao)(gao)頻電(dian)流通過(guo)母(mu)線時(shi)(shi)，將(jiang)在(zai)母(mu)線周(zhou)圍產生很強的(de)(de)(de)電(dian)場(chang)和磁場(chang)，從而(er)對相關(guan)二次(ci)回(hui)路和二次(ci)設備(bei)產生干(gan)擾(rao)，當干(gan)擾(rao)水平超過(guo)裝置邏輯(ji)元件允許的(de)(de)(de)干(gan)擾(rao)水平時(shi)(shi)，將(jiang)引起(qi)微(wei)機繼電(dian)保護(hu)測試(shi)儀的(de)(de)(de)不正常工(gong)作(zuo)，從而(er)使整個裝置的(de)(de)(de)工(gong)作(zuo)邏輯(ji)或出(chu)口邏輯(ji)異常，對系(xi)統(tong)的(de)(de)(de)穩定(ding)造(zao)成很大的(de)(de)(de)破(po)壞(huai)。高(gao)(gao)(gao)(gao)頻電(dian)流通過(guo)接地電(dian)容設備(bei)流人地網(wang)，將(jiang)引起(qi)地電(dian)位的(de)(de)(de)升高(gao)(gao)(gao)(gao)。